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dc.rights.licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_MX
dc.creatorDANIEL MALACARA HERNANDEZes_MX
dc.date2012-02-09-
dc.date.accessioned2019-06-25T03:35:21Z-
dc.date.available2019-06-25T03:35:21Z-
dc.date.issued2012-02-09-
dc.identifier.urihttp://repositorio.ugto.mx/handle/20.500.12059/1060-
dc.description.abstractEn este trabajo se presenta una introducción al campo de la metrología óptica y de su herramienta principal que es la interferometría. También se presenta un panorama de los diferentes métodos empleados en metrología describiendo con especial detalle los avances más recientes en este campo.es_MX
dc.formatapplication/pdf-
dc.language.isospaes_MX
dc.publisherUniversidad de Guanajuatoes_MX
dc.relationhttp://www.actauniversitaria.ugto.mx/index.php/acta/article/view/218-
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_MX
dc.sourceActa Universitaria. Multidisciplinary Scientific Journal. Vol 15 No 2 (2005)-
dc.sourceISSN: 2007-9621-
dc.titleLa Metrología Óptica y sus Aplicacioneses_MX
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articlees_MX
dc.creator.idinfo:eu-repo/dai/mx/cvu/3123es_MX
dc.subject.ctiinfo:eu-repo/classification/cti/1es_MX
dc.subject.keywordsMetrología ópticaes_MX
dc.subject.keywordsInterferometríaes_MX
dc.subject.keywordsOptical metrologyen
dc.subject.keywordsInterferometryen
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersiones_MX
dc.description.abstractEnglishIn this work an introduction to optical metrology is presented with a brief description of its main tool which is interferometry. Also, a survey of the main different methods used in optical metrology is described with a special emphasis on the most recent developments.en
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