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http://repositorio.ugto.mx/handle/20.500.12059/2506
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
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dc.rights.license | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 | es_MX |
dc.creator | PEDRO PABLO ROCHA GARCIA | es_MX |
dc.date.accessioned | 2020-09-04T18:37:03Z | - |
dc.date.available | 2020-09-04T18:37:03Z | - |
dc.date.issued | 2015 | - |
dc.identifier.uri | http://repositorio.ugto.mx/handle/20.500.12059/2506 | - |
dc.description.abstract | Se presenta una caracterización de guías de onda de acuerdo a sus propiedades de dispersión usando una técnica de interferometría de luz blanca. Se usa un analizador de espectros ópticos para el análisis del espectro óptico en la salida del interferómetro y así medir el índice de refracción del material en el rango de 400 a 700 nm aproximadamente. La técnica utiliza un interferómetro Michelson, el cual consta de dos brazos, en uno de ellos se pone el material a caracterizar y el otro se compone de un espejo montado en una base de traslación micrométrica para variar su longitud de camino óptico y así analizar unas series de interferogramas del espectro y medir la longitud de onda de ecualización en función del desplazamiento del espejo. | es_MX |
dc.language.iso | spa | es_MX |
dc.publisher | Universidad de Guanajuato | es_MX |
dc.relation | http://www.jovenesenlaciencia.ugto.mx/index.php/jovenesenlaciencia/article/view/281 | - |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | es_MX |
dc.source | Jóvenes en la Ciencia: Verano de la Investigación Científica Vol. 1, No.2 (2015) | es_MX |
dc.title | Dispersion characteristics of the optical waveguides for photonics applications | es_MX |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article | es_MX |
dc.creator.id | info:eu-repo/dai/mx/cvu/787689 | es_MX |
dc.subject.cti | info:eu-repo/classification/cti/2 | es_MX |
dc.subject.keywords | Luz blanca | es_MX |
dc.subject.keywords | Interferometría espectral | es_MX |
dc.subject.keywords | Analizador de espectros óptico | es_MX |
dc.subject.keywords | Interferómetro Michelson | es_MX |
dc.subject.keywords | Índice de refracción | es_MX |
dc.type.version | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | es_MX |
dc.creator.two | OLEKSIY SHULIKA | uc |
dc.creator.idtwo | info:eu-repo/dai/mx/cvu/495210 | es_MX |
dc.description.abstractEnglish | We present a characterization of waveguides by their dispersion properties using a white light interferometry technique. We use an optical spectrum analyzer for the analysis of the interferometer output spectrum and after that we measure the refraction index of the material in the rage from 400 to 700 nm approximately. The technique utilizes a Michelson interferometer which has two arms, in one of them we put the material and the other one is made with a mirror positioned in a movable micrometric base for change the optical path length and so analyzing a series of spectral interferograms for measuring the equalization wavelength as a function of the displacement of the mirror. | en |
Appears in Collections: | Revista Jóvenes en la Ciencia |
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File | Description | Size | Format | |
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Dispersion characteristics of the optical waveguides for photonics applications.pdf | 428.48 kB | Adobe PDF | View/Open |
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