Please use this identifier to cite or link to this item: http://repositorio.ugto.mx/handle/20.500.12059/5172
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.rights.licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_MX
dc.creatorROSARIO PEÑALOZA DELGADOes_MX
dc.date.accessioned2021-08-13T18:03:04Z-
dc.date.available2021-08-13T18:03:04Z-
dc.date.issued2018-02-
dc.identifier.urihttp://repositorio.ugto.mx/handle/20.500.12059/5172-
dc.description.abstractEn este trabajo se describe el diseño de un sensor para medir permitividad dieléctrica compleja de materiales con microondas. Este circuito es basado en tecnologías novedosas de la literatura; guías de onda integradas en sustrato (Substrate Integrated Waveguide “SIW”), método de perturbación de cavidad (Cavity perturbation technique “CPT”) y epsilon cercano a cero (Epsilon near zero, “ENZ”). Este nuevo sensor utiliza una guía de onda integrada en sustrato para la caracterización de las propiedades dieléctricas. La estructura es miniaturizada usando la técnica de Epsilon Near Zero. Esta técnica ya ha sido reportada. Sin embargo, se demuestra que se puede obtener una estructura con alto Q aumentando el espesor del túnel y modificando el acoplamiento externo. Además, esta estructura está diseñada para ser reconfigurable a dos frecuencias de 2.4 GHz y 3.5 GHz mediante el uso de interruptores de metal líquido, donde los resultados experimentales son muy similares a los valores reportados en la literatura para las muestras medidas.es_MX
dc.language.isospaes_MX
dc.publisherUniversidad de Guanajuatoes_MX
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_MX
dc.subject.classificationCIS- Maestría en Ingeniería Eléctrica (Instrumentación y Sistemas Digitales)es_MX
dc.titleSensado de materiales con estructuras de microondases_MX
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesises_MX
dc.creator.idinfo:eu-repo/dai/mx/cvu/736570-
dc.subject.ctiinfo:eu-repo/classification/cti/7es_MX
dc.subject.ctiinfo:eu-repo/classification/cti/33es_MX
dc.subject.ctiinfo:eu-repo/classification/cti/3306es_MX
dc.subject.keywordsPermitividad dieléctrica compleja - Mediciónes_MX
dc.subject.keywordsSIW (Guías de Onda Integradas en Sustrato)es_MX
dc.subject.keywordsCPT (Método de Perturbación de Cavidad)es_MX
dc.subject.keywordsSensores para medir permitividad dieléctrica compleja – Diseñoes_MX
dc.subject.keywordsEstructuras de microondases_MX
dc.subject.keywordsComplex dielectric permittivity - Measurementen
dc.subject.keywordsSIW (Substrate Integrated Waveguide)en
dc.subject.keywordsCPT (Cavity Perturbation Technique)en
dc.subject.keywordsSensor to Measure the complex dielectric permittivity – Designen
dc.subject.keywordsMicrowave structuresen
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersiones_MX
dc.contributor.oneALONSO CORONA CHAVEZes_MX
dc.contributor.twoJOSE ROBERTO REYES AYONAes_MX
dc.contributor.idoneinfo:eu-repo/dai/mx/cvu/122943-
dc.contributor.idtwoinfo:eu-repo/dai/mx/cvu/238668-
dc.contributor.roleonedirectoren
dc.contributor.roletwodirectoren
dc.description.abstractEnglishIn this work describes the design of a measure the complex dielectric permittivity of materials with microwaves. This circuit is sensor to based on novel technologies of literature; integrated substrate waveguide "SIW", cavity disturbance technique "CPT" and Epsilon near zero "ENZ". This novel sensor using substrate integrated waveguide is presented for dielectric properties characterization. The structure is miniaturized using Epsilon Near Zero technique. This technique has already been reported. However, it is demonstrated that a high Q structure can be obtained by increasing the tunnel thickness and modifying the external coupling. In addition, this structure is designed to be reconfigurable to two frequencies 2.4 GHz and 3.5 GHz by using liquid metal switches. Cavity perturbation technique is used to measure the dielectric permittivity of some liquids, where the experimental results are very close to the values reported in the literature for the measured samples.en
Appears in Collections:Maestría en Ingeniería Eléctrica (Instrumentación y Sistemas Digitales)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
ROSARIO PEÑALOZA DELGADO_Tesis24.pdf4.98 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.